Produse
Produse
      • Total RON Comandă
      x
      Coșul tău este gol.
      Comandă
      ×

      Ai 10%, 15% sau 20% reducere, în funcție de câte cărți pui în coș. Detalii aici.

      Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

      Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

      Nicholas W. M. Ritchie, Dale Newbury, David C. Joy, Joseph Michael, Joseph Goldstein, John Henry Scott
      0.0 / 10 ( 0 voturi)
      Categorii:
      Carte straina, Istorie generala
      Limba:
      Engleza
      Data publicarii:
      2017
      Editura:
      Nr. pagini:
      550
      Editia:
      4th ed. 2018
      ISBN:
      9781493966745
      Dimensiuni: l: 28.4cm | H: 21.7cm | 3.6cm | 1760g
      Adaugă în coș
      Adaugă în wishlist
      68920
      Stoc furnizor
      Livrare în 2-3 săptămâni!
      Preț valabil exclusiv online!
      Împachetare cadou gratuită!
      Transport gratuit peste 150 de lei.
      Retur gratuit în 14 zile.
      Ai întrebări? Contactează-ne!
      Recenzii și comentarii

      Nota

      de |

      Nu există recenzii pentru acest produs.
      Adaugă o recenzie
      Trebuie să te autentifici pentru a adăuga comentarii/recenzii.