Produse
Produse
      • Total RON Comandă
      x
      Coșul tău este gol.
      Comandă
      ×

      Sărbătorim 24 de ani împreună și ai codul CARTU24 pentru -20% la toată oferta în stoc 24h

      Conductive Atomic Force Microscopy

      Conductive Atomic Force Microscopy

      Applications in Nanomaterials
         Vezi mai multe
      0.0 / 10 ( 0 voturi)
      Categorii:
      Istoria stiintei si generalitati
      Limba:
      Engleza
      Data publicarii:
      2017
      Editura:
      Tip coperta:
      Hardcover
      Nr. pagini:
      384
      ISBN:
      9783527340910
      Dimensiuni: l: 25.1cm | H: 17.6cm | 2.5cm | 978g
      Indisponibil
      Adaugă în wishlist
      Indisponibil
      Preț valabil exclusiv online!
      Împachetare cadou gratuită!
      Transport gratuit peste 150 de lei.
      Retur gratuit în 14 zile.
      Ai întrebări? Contactează-ne!
      Descriere
      The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
      Recenzii și comentarii

      Nota

      de |

      Nu există recenzii pentru acest produs.
      Adaugă o recenzie
      Trebuie să te autentifici pentru a adăuga comentarii/recenzii.